인텍플러스, 표면 형상 측정 시스템 美 특허 취득 공유하기 X 페이스북 트위터 URL복사 복사 2012-08-07 11:00:57 ㅣ 2012-08-07 11:02:07 [뉴스토마토 홍은성기자] 인텍플러스(064290)는 7일 표면 형사 측정 시스템와 이를 이용한 측정 방법에 관해 미국 특허를 취득했다고 공시했다. 회사측은 “이 발명은 측정물 전체 면적에 대한 검사를 수행하는 대신 특정 영역에 대해서만 3차원 검사를 수행할 수 있도록 하는 표면 형상 측정 시스템”이라며 “이 특허를 이용해 외관검사장비의 경쟁력을 강화하겠다”고 밝혔다. ⓒ 맛있는 뉴스토마토, 무단 전재 - 재배포 금지 관련기사 씨젠, 2분기 영업익 36억..전년동기比 100%↑ 한광, 2분기 영업익 20억..전년동기比 373.5%↑ (종목Plus)이엘케이, 2분기 영업적자 불구 5% 상승 미래나노텍, 2분기 영업익 81억..전년동기比 169.8%↑ 홍은성 뉴스북 이 기자의 최신글 0/300 댓글 0 추천순 추천순 최신순 반대순 답글순 필터있음 필터있음필터없음 답댓글 보기3 0/0 댓글 더보기 뉴스리듬 이 시간 주요 뉴스 인기 뉴스 함께 볼만한 뉴스